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练习与测验

本目录用于保存阶段复习题、结课测验和需要与正文分离的答案。每章练习优先放在对应章节末尾；阶段性综合练习放在本目录。

答案文件应避免在题目之后立即暴露答案，可使用独立文件或 Markdown 折叠区。每道计算题答案需要保留关键步骤、单位和结果合理性检查。

已生成材料

阶段复习一：从器件到 CMOS 逻辑：覆盖第 1～5 章，含 100 分综合测验、折叠答案和薄弱点诊断。
阶段复习二：组合逻辑与 4 bit ALU：覆盖第 6～10 章，含 100 分综合测验、ALU 纸面设计和关键路径分析。
阶段复习三：时序逻辑与定时控制器：覆盖第 11～16 章，含 100 分综合测验、四拍定时控制器和跨时钟域检查。
阶段复习四：RTL、综合与基础验证：覆盖第 17～21 章，含 100 分综合测验、8 字累加器和功能—结构—时序证据闭环。
结课综合测验：覆盖第 1～23 章，按器件、电路、RTL、验证、实现、功耗与测试形成 100 分闭卷测验。