本章目录 27 节

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第 5 章 静态 CMOS 逻辑门

本章不要先背 NAND、NOR 的晶体管图。固定按“什么输入条件要把输出拉低 → 画 NMOS 通路 → 再画互补 PMOS 通路”的顺序学习。

1. 本章要解决的问题

反相器只能完成“输入取反”。数字系统还需要判断多个条件,例如“两个条件都满足”“至少一个条件满足”以及“某组条件满足时输出变低”。怎样把这样的逻辑要求直接变成 PMOS 和 NMOS 的连接关系?怎样检查电路对每一种输入都能输出正确电平,而且不会把电源与地同时接通?

本章把反相器扩展成静态互补 CMOS 逻辑门。核心方法只有两步:先根据“输出何时为 0”构造 NMOS 下拉网络,再把串联和并联互换,得到互补的 PMOS 上拉网络。NAND、NOR 和复合门都来自这套方法。

2. 与第 4 章的联系

第 4 章说明,门的速度由导通电阻和负载电容共同决定。多输入逻辑门会把晶体管串联或并联:串联增加最坏情况下的导通电阻,更多晶体管也会增加输入电容、输出寄生电容和内部节点电容。

因此,本章同时回答两个层面的问题:在逻辑层,晶体管网络实现什么函数;在电路层,它的串并联结构怎样影响延迟、面积和功耗。

3. 前置知识快速检查

  1. NMOS 输入为逻辑 1 时倾向于导通,PMOS 输入为逻辑 0 时倾向于导通,对吗?
  2. CMOS 反相器的上拉网络和下拉网络分别连接哪个电源轨?
  3. 两个电阻串联时,总电阻怎样变化?两个电容并接到同一输出节点时,总负载怎样变化?
  4. 第 4 章的一阶传播延迟与 \(R_{eq}\)\(C_L\) 有什么关系?

若第 1、2 题不确定,先复习第 2 章开关模型和第 3 章图 3-1。若第 4 题不确定,先回看第 4 章的 \(t_p\approx0.69R_{eq}C_L\)。本章会反复使用这两个基础。

4. 学习目标

完成本章后,你应能够:

5. 先补足最少的逻辑语言

本章只使用五种基本逻辑关系。第 7 章会系统介绍布尔代数和化简规则。

真值表(truth table)把所有输入组合逐行列出,再写出每一行的输出。两个二值输入共有 \(2^2=4\) 种组合:00、01、10、11。

\(A\) \(B\) \(A\cdot B\) \(A+B\) \(\overline{A\cdot B}\) \(\overline{A+B}\)
0 0 0 0 1 1
0 1 0 1 1 0
1 0 0 1 1 0
1 1 1 1 0 0

这里的 + 表示逻辑 OR,不是普通加法;· 表示逻辑 AND,不是模拟电压相乘。

6. 静态互补 CMOS 的正确性条件

一个静态互补 CMOS 门包含两个网络:

对于每个稳定、合法的输入组合,正确电路应满足:

  1. 输出需要为 1 时,PUN 有导通路径,PDN 没有导通路径;
  2. 输出需要为 0 时,PDN 有导通路径,PUN 没有导通路径;
  3. 不允许两个网络都关断,否则输出悬空并保留不受保证的旧电荷;
  4. 不允许两个网络在稳定状态都导通,否则形成 V_DDGND 的直流通路。

输入转换期间可能短暂出现两管共同导通,这对应第 4 章的短路功耗。这里的正确性条件针对输入已经稳定后的静态状态。

7. NMOS 网络:串联表示“同时满足”,并联表示“任一满足”

NMOS 在栅输入为 1 时导通。由此可以直接读出网络条件:

观察图 5-1 时,不要先背逻辑符号。用手指从输出沿网络走向 GND:串联路径的每一道“门”都要打开;并联路径只需找到一条打开的支路。

NMOS串并联与逻辑条件

图 5-1 NMOS 串联要求 A、B 同时为 1;NMOS 并联只要求 A、B 至少一个为 1

这条关系给出构造下拉网络的直接方法:把“输出应该为 0 的条件”写出来;条件中的 AND 用 NMOS 串联,OR 用 NMOS 并联。

立即检查:若输出在 \(A=1\)\(B=1\) 时都应被拉低,下拉网络应串联还是并联?答案是并联,因为任一输入为 1 都要形成通路。

8. PMOS 网络:导通条件相反,拓扑与 PDN 对偶

PMOS 在栅输入为 0 时导通。直接从复杂逻辑式构造 PMOS 网络容易混乱,稳定的方法是先完成 PDN,再构造它的对偶网络

  1. 每只 NMOS 换成由同一输入控制的 PMOS;
  2. NMOS 的串联换成 PMOS 的并联;
  3. NMOS 的并联换成 PMOS 的串联;
  4. PDN 接 GND,PUN 接 V_DD,两者在输出汇合。

串并联互换后,PUN 恰好在 PDN 断开时提供上拉路径。这个结构对应德摩根关系,但本章先从晶体管导通条件理解;第 7 章再用布尔代数形式化。

9. 2 输入 NAND 门

NAND 的输出只在 \(A=1\)\(B=1\) 时为 0:

\[ Y=\overline{A\cdot B} \]

9.1 构造 PDN

输出为 0 的条件是 \(A\cdot B=1\),所以用两只 NMOS 串联。只有 A、B 同时为 1,输出到 GND 的路径才完整。

9.2 构造 PUN

把串联 NMOS 的对偶结构放到上方:两只 PMOS 并联。只要 A 或 B 至少有一个为 0,就至少有一只 PMOS 导通,输出被拉高。

图 5-2 用绿色区域表示 PUN、蓝色区域表示 PDN。右侧真值表列出每个输入组合下哪一个网络形成完整路径,与左侧拓扑逐行对应。

2输入NAND门的CMOS实现

图 5-2 2 输入 NAND:下拉网络为串联 NMOS,上拉网络为并联 PMOS

\(A\) \(B\) PUN 是否有路 PDN 是否有路 \(Y\)
0 0 有,两支均可 1
0 1 有,A 支路 1
1 0 有,B 支路 1
1 1 有,串联路径 0

10. 2 输入 NOR 门

NOR 的输出在 A 或 B 任一为 1 时变为 0:

\[ Y=\overline{A+B} \]

10.1 构造 PDN

输出为 0 的条件是 \(A+B=1\),所以用两只 NMOS 并联。A 或 B 任一为 1,都能形成下拉路径。

10.2 构造 PUN

并联 NMOS 的对偶是串联 PMOS。只有 A、B 都为 0,两只 PMOS 才同时导通并把输出拉高。

2输入NOR门的CMOS实现

图 5-3 2 输入 NOR:下拉网络为并联 NMOS,上拉网络为串联 PMOS

\(A\) \(B\) PUN 是否有路 PDN 是否有路 \(Y\)
0 0 有,串联路径 1
0 1 有,B 支路 0
1 0 有,A 支路 0
1 1 有,两支均可 0

NAND 与 NOR 的区别来自“输出何时为 0”:NAND 要求所有输入为 1 才下拉,因此 PDN 串联;NOR 只需任一输入为 1 就下拉,因此 PDN 并联。

11. 为什么静态 CMOS 天然实现带反相的函数

PDN 描述的是输出被拉低的条件。若 PDN 的导通函数记为 \(F(A,B,\ldots)\),那么输出逻辑是

\[ Y=\overline{F(A,B,\ldots)} \]

所以串联 NMOS 直接得到 NAND,而不是 AND;并联 NMOS 直接得到 NOR,而不是 OR。若需要 AND 或 OR,可以在 NAND 或 NOR 后面再接一级反相器:

\[ A\cdot B=\overline{\overline{A\cdot B}} \]

\[ A+B=\overline{\overline{A+B}} \]

多一级反相器会增加晶体管、输入负载、延迟和功耗。实际设计常优先使用能够直接完成所需“与—或—反相”结构的复合门。

12. 从逻辑条件构造复合门:AOI21

考虑函数

\[ Y=\overline{A\cdot B+C} \]

它称为 AOI21:先把 A、B 做 AND,再与 C 做 OR,最后反相;数字 21 表示一个二输入组和一个单输入组。

12.1 先画 PDN

输出为 0 的条件是

\[ A\cdot B+C=1 \]

因此:A、B 两只 NMOS 串联形成一条支路;C 控制的 NMOS 形成另一条支路;两条支路并联。

12.2 再画 PUN

对 PDN 做对偶:A、B 的并联 PMOS 作为一组,再与 C 控制的 PMOS 串联。PUN 的导通条件是 \((\overline A+\overline B)\cdot\overline C\),正好对应输出为 1 的条件。

图 5-4 从表达式逐步连接到 PDN、PUN 和完整门。读图时先处理括号内的 \(A\cdot B\),再处理外层的 +C

AOI21复合门的构造过程

图 5-4 AOI21:由低输出条件 \(A\cdot B+C\) 构造 PDN,再通过串并联互换得到 PUN

13. OAI21:换一种括号,拓扑就会改变

考虑

\[ Y=\overline{(A+B)\cdot C} \]

它称为 OAI21:A、B 先 OR,再与 C 做 AND,最后反相。

PDN 中,A、B 两只 NMOS 并联,然后与 C 控制的 NMOS 串联。PUN 是对偶结构:A、B 两只 PMOS 串联形成一支,与 C 控制的 PMOS 支路并联。

AOI21 与 OAI21 使用相同输入和相同晶体管数量,但括号不同,网络拓扑和真值表都不同。构造时必须保留运算分组,不能只看出现了几个 AND 和 OR。

14. 一套可重复的设计与检查流程

面对一个静态 CMOS 逻辑函数,可按以下顺序工作:

  1. 列出输入和目标输出:先用真值表或清楚的条件句确定规格。
  2. 找低输出条件:写出 \(Y=0\) 时哪些输入组合成立。
  3. 构造 PDN:AND 变串联 NMOS,OR 变并联 NMOS。
  4. 构造 PUN:每只 NMOS 换成 PMOS,串联与并联互换。
  5. 检查四类问题:每个输入组合下,是否恰有一个网络提供完整路径;是否有悬空、直通或错误电源轨。
  6. 检查动态代价:找最深串联栈、输出寄生、内部节点和每个输入所驱动的栅电容。
  7. 再考虑尺寸:按最坏导通路径补偿电阻,同时评估前级负载和面积。

图 5-5 把这套流程压缩成一条从逻辑规格到电路检查的链,适合在做题时反复使用。

静态CMOS门的设计检查流程

图 5-5 从低输出条件构造 PDN、对偶得到 PUN,再用全部输入组合和动态代价复核

15. 扇入与晶体管数量

扇入(fan-in)是一个逻辑门直接接收的输入数量。2 输入 NAND 的扇入为 2,4 输入 NOR 的扇入为 4。

静态互补 CMOS 的每个输入通常同时控制一只 NMOS 和一只 PMOS。一个 \(N\) 输入 NAND 或 NOR 因而需要约 \(2N\) 只晶体管;若还要得到非反相 AND 或 OR,再增加一个 2 管反相器。

扇入增加会带来多方面代价:

因此,大扇入逻辑不一定适合做成单个门。把它分解成多级小扇入门可能更快,也可能更慢;需要比较级数、每级负载和串联栈深度。

16. 串联晶体管为什么更慢

用第 4 章的一阶模型,\(k\) 只相同尺寸的导通晶体管串联时,可先估算

\[ R_{stack}\approx kR_{unit} \]

\(R_{stack}\)\(R_{unit}\) 的单位都是 Ω,\(k\) 无量纲。对应最坏路径延迟近似为

\[ t_p\approx0.69R_{stack}C_L \]

例如,2 输入 NAND 的最坏下拉路径包含两只串联 NMOS。若每只都与参考反相器 NMOS 同尺寸,简单电阻模型给出约 \(2R_n\) 的下拉电阻,输出高到低的延迟倾向于增大。

真实串联栈并不等同于几个固定电阻直接相加。内部节点电压改变每只管的 \(V_{GS}\)\(V_{DS}\) 和体效应,寄生电容也参与瞬态过程。一阶式用于判断方向和数量级。

17. 尺寸补偿:降低电阻会增加电容

在一阶近似中,MOSFET 导通电阻大致与宽度成反比:

\[ R_{on}\propto\frac{1}{W} \]

若希望两只串联 NMOS 的总电阻接近一只参考 NMOS,可以把每只串联管的宽度先估为参考宽度的约 2 倍。对 \(k\) 只串联管,最初估算为

\[ W_{stack}\approx kW_{ref} \]

这不是固定版图规则,而是便于起步的一阶尺寸估算。增宽后会同时发生:

对 2 输入 NAND,最坏下拉路径是两只 NMOS 串联;最坏上拉路径通常只有一只 PMOS 导通。对 2 输入 NOR,最坏上拉路径是两只 PMOS 串联;最坏下拉路径通常只有一只 NMOS 导通。因此,同样扇入下,NOR 的上拉尺寸和输入电容常更不利,特别是 PMOS 本来就需要较大宽度时。

18. 内部节点和输入顺序

串联栈之间存在内部节点。这些节点也有扩散电容,并可能保留上一次状态的电荷。不同输入到达的先后顺序会改变哪些内部节点需要充放电,从而影响延迟和能量。

例如 NAND 的两个串联 NMOS 中,靠近输出的晶体管与靠近 GND 的晶体管在版图和动态作用上并不完全等价。若一个较晚到达的关键输入控制不同位置,输出响应和内部节点活动可能改变。

基础逻辑判断只关心最终输入组合,所以可以把同类串联管视为可交换;速度和功耗优化需要回到电路层,结合输入到达时间、内部电容和工艺模型分析。

19. 选学:逻辑努力的直观概念

先修知识:理解第 4 章的负载、传播延迟,以及本章的输入电容和串联栈。

逻辑努力(logical effort)用一个相对量描述某种门在提供相同输出驱动时,比参考反相器需要多大的输入电容。直观上,串联晶体管需要增宽才能补偿电阻,增宽又提高输入电容,所以 NAND、NOR 驱动同一负载时通常比反相器付出更大的输入代价。

本课程只使用这个直觉:反相器是高效基准;串联栈越不利,为获得相近驱动所需的输入电容通常越大。具体逻辑努力数值、最优级努力和路径优化属于进阶内容。

20. 完整例题

例题 1:从真值条件构造 NAND

设计一个输出仅在 \(A=B=1\) 时为 0 的静态 CMOS 门。

步骤 1:写低输出条件。

\[ Y=0\quad\text{当且仅当}\quad A\cdot B=1 \]

步骤 2:构造 PDN。

AND 条件要求 A、B 控制的 NMOS 串联。

步骤 3:构造 PUN。

对偶后,A、B 控制的 PMOS 并联。

步骤 4:逐行检查。

11 时只有 PDN 完整,输出为 0;00、01、10 时至少一只 PMOS 导通,而且串联 PDN 断开,输出为 1。因此

\[ Y=\overline{A\cdot B} \]

变式:若希望得到 \(A\cdot B\),在 NAND 后接一个反相器。

例题 2:构造 \(Y=\overline{A+B\cdot C}\)

步骤 1:读取低输出条件。

PDN 应在 \(A=1\),或 \(B=C=1\) 时导通。

步骤 2:构造 PDN。

A 控制的单 NMOS 支路,与 B、C 两只串联 NMOS 支路并联。

步骤 3:构造 PUN。

把 PDN 对偶化:A 控制的 PMOS 与 B、C 两只并联 PMOS串联。

步骤 4:抽查关键组合。

变式:若表达式改为 \(\overline{(A+B)\cdot C}\),括号改变后,PDN 应改为 A、B 并联组与 C 串联。

例题 3:估算 NAND 的下拉尺寸和延迟趋势

参考反相器 NMOS 宽度为 \(W_n=1\ \mu\text{m}\),等效导通电阻为 \(R_n=6\ \text{k}\Omega\)。设计 2 输入 NAND,先用一阶模型让其最坏下拉电阻接近参考反相器。负载均为 20 fF。

步骤 1:判断串联数。

NAND 最坏下拉路径包含 2 只串联 NMOS。

步骤 2:估算宽度。

每只管先取

\[ W_{stack}\approx2W_n=2\ \mu\text{m} \]

若电阻与宽度成反比,每只增宽后的电阻约为 3 kΩ,两只串联约为 6 kΩ。

步骤 3:估算输出高到低延迟。

\[ t_{pHL}\approx0.69\times6\times10^3\times20\times10^{-15} =82.8\ \text{ps} \]

这个结果与参考反相器的一阶下拉延迟相近。

结果检查:尺寸补偿恢复了下拉电阻,却使 A、B 各自驱动的 NMOS 栅电容增大。真实 NAND 还有内部扩散节点和不同偏置,最终延迟需要晶体管级模型或标准单元表征。

变式:若保持每只 NMOS 为 1 μm,不做增宽,一阶串联电阻约为 12 kΩ,对相同负载估算 \(t_{pHL}\approx165.6\) ps。

21. 常见误区与反例

误区 1:NMOS 串联实现 AND 输出

串联 NMOS 表示 PDN 在 AND 条件下导通,也就是输出在该条件下被拉低。整个静态 CMOS 门输出的是 AND 条件的反相,即 NAND。

误区 2:PUN 与 PDN 使用相同串并联拓扑

上下网络若拓扑相同,某些输入组合可能同时导通或同时断开。PUN 应是 PDN 的对偶:器件类型替换,同时串并联互换。

误区 3:只检查输出为 0 的输入组合

PDN 正确并不自动证明手画的 PUN 正确。每个输入组合都要检查上拉、下拉是否恰有一条完整路径。

误区 4:并联晶体管的电阻永远减半

只有两条支路都导通且参数相近时,等效电阻才接近单支路的一半。NAND 的上拉最坏情况常只有一只 PMOS 导通。

误区 5:串联两管就把每只宽度固定放大两倍

两倍宽度是一阶起始估算。真实驱动受端电压、体效应、内部节点、寄生电容、版图和 PVT 影响,最终尺寸由目标库和路径约束决定。

误区 6:大扇入单级门一定比多级门快

单级门减少逻辑级数,也可能形成很深的串联栈和很大的输入电容。速度由整条路径决定,需要比较所有级的驱动与负载。

误区 7:逻辑功能相同,晶体管实现就没有差别

两个电路可以具有相同真值表,却在晶体管数量、串联深度、输入电容、内部节点活动、延迟和功耗上不同。

22. 工程中的实际意义

标准单元库通常提供不同驱动强度的 INV、NAND、NOR、AOI、OAI 等单元。逻辑综合会根据布尔功能、时序、面积和功耗约束选择这些单元。理解晶体管网络后,可以解释为什么某些复合门比“多个简单门级联”更紧凑,也能判断大扇入 NOR、深串联栈或过度增宽为何代价较高。

版图中,串联器件可能共享扩散区以节省面积和寄生电容;输入顺序、阱和体端连接、扩散断点以及金属布线会进一步影响实际性能。逻辑拓扑是起点,标准单元实现还需要版图和表征共同完成。

23. 本章知识链

目标真值表或逻辑条件
          ↓ 找 Y=0
      下拉导通函数 F
          ↓ NMOS 映射
AND → 串联,OR → 并联
          ↓ 对偶变换
PMOS 替换 + 串并联互换
          ↓
互补 PUN / PDN 完整门
          ↓ 对全部输入检查
无悬空、无静态直通、输出正确
          ↓ 加入动态代价
串联电阻、输入/输出/内部电容、扇入
          ↓
尺寸、级数、面积、延迟和功耗折中

24. 本章小结

25. 练习

25.1 基础题

  1. 分别用一句话解释 AND、OR、NAND 和 NOR。
  2. 为什么两只 NMOS 串联表示“两个输入同时为 1 才能下拉”?
  3. 为什么两只 NMOS 并联表示“任一输入为 1 就能下拉”?
  4. 静态 CMOS 门在每个稳定输入组合下必须满足哪两条路径条件?
  5. 画出 2 输入 NAND 的 PUN 和 PDN,并标注 V_DDGND、A、B 和 Y。
  6. 画出 2 输入 NOR 的 PUN 和 PDN。

25.2 分析与设计题

  1. 写出 3 输入 NAND 的真值条件,并说明 PUN、PDN 的串并联关系和晶体管数量。
  2. \(Y=\overline{A\cdot B+C}\) 构造 PDN 和 PUN,并检查输入 010、011、100、111。
  3. \(Y=\overline{(A+B)\cdot C}\) 构造 PDN 和 PUN。说明它与第 8 题拓扑的不同。
  4. 某人把 2 输入 NAND 的 PUN 也画成两只 PMOS 串联。列出一个会暴露错误的输入组合,并说明输出发生什么。
  5. 参考 NMOS 的电阻为 8 kΩ。3 只同尺寸 NMOS 串联时,用一阶模型估算总电阻;若希望总电阻接近 8 kΩ,每只管宽度可先估为参考宽度的多少倍?
  6. 2 输入 NAND 的最坏下拉电阻为 10 kΩ,\(C_L=25\) fF。估算 \(t_{pHL}\)。若负载增至 60 fF,其他条件不变,重新估算。
  7. 比较 4 输入 NAND 与 4 输入 NOR 的最坏串联路径。结合 PMOS/NMOS 尺寸说明哪一种门通常更难获得快速的上升边沿。

25.3 综合题

  1. 设计 \(Y=\overline{A\cdot(B+C)}\) 的静态 CMOS 门。给出低输出条件、PDN、PUN、8 行真值表,并沿每一行检查是否恰有一个网络导通。最后指出最深 NMOS 栈、最深 PMOS 栈以及可能的尺寸代价。
展开查看练习答案
  1. AND 在所有输入为 1 时输出 1;OR 在至少一个输入为 1 时输出 1;NAND 是 AND 的反相;NOR 是 OR 的反相。
  2. 串联路径必须经过两只管。NMOS 只有对应输入为 1 才导通,因此 A、B 都为 1 时输出到 GND 的路径才完整。
  3. 并联提供多条候选路径。A 或 B 任一为 1,就有一只 NMOS 导通并形成下拉通路。
  4. 输出为 1 时只有 PUN 有完整路径;输出为 0 时只有 PDN 有完整路径。换句话说,稳定状态不能悬空,也不能同时连接 V_DDGND
  5. PDN 为 A、B 控制的两只 NMOS 串联并接到 GND;PUN 为 A、B 控制的两只 PMOS 并联并接到 V_DD;两网络在 Y 汇合。
  6. PDN 为 A、B 控制的两只 NMOS 并联;PUN 为两只 PMOS 串联。
  7. 3 输入 NAND 为 \(Y=\overline{A\cdot B\cdot C}\),只在 111 时输出 0。PDN 是 3 只 NMOS 串联,PUN 是 3 只 PMOS 并联,共 6 只晶体管。
  8. PDN:A 单管支路与 B、C 串联支路并联。PUN:A 控制的 PMOS 与 B、C 并联 PMOS 组串联。010 时 PDN 无路、PUN 有路,Y=1;011 时 B、C 支路有路,Y=0;100 和 111 时 A 支路有路,Y=0。
  9. PDN:A、B 并联 NMOS 组与 C 控制 NMOS 串联。PUN:A、B 串联 PMOS 支路与 C 控制 PMOS 支路并联。第 8 题是“单管 A 与串联 B-C 并联”,本题是“并联 A-B 与单管 C 串联”。
  10. 取 A=0、B=1。正确 NAND 输出应为 1;错误的串联 PUN 中,B 控制的 PMOS 关断,因此 PUN 无路,同时串联 PDN 也无路,输出悬空。
  11. 同尺寸一阶估算为 \(R_{stack}\approx3\times8=24\) kΩ。若电阻与宽度成反比,每只串联管先取参考宽度的约 3 倍,则每只约为 \(8/3\) kΩ,三只串联约为 8 kΩ。
  12. \(t_{pHL}\approx0.69\times10\times10^3\times25\times10^{-15}=172.5\) ps。负载为 60 fF 时,\(t_{pHL}\approx414\) ps。
  13. 4 输入 NAND 的最坏 PDN 是 4 只 NMOS 串联,PUN 最坏通常只有一只 PMOS 导通;4 输入 NOR 的最坏 PUN 是 4 只 PMOS 串联,PDN 最坏通常只有一只 NMOS 导通。PMOS 为补偿较低迁移率往往已经比 NMOS 宽,四只 PMOS 串联若继续增宽会产生很大的输入与扩散电容,因此 4 输入 NOR 通常更难获得快速上升边沿。
  14. 低输出条件为 \(A\cdot(B+C)=1\)。PDN:A 控制的 NMOS 与 B、C 并联 NMOS 组串联。PUN:A 控制的 PMOS 支路与 B、C 串联 PMOS 支路并联。
A B C \(A\cdot(B+C)\) Y 有效网络
0 0 0 0 1 PUN:A 支路
0 0 1 0 1 PUN:A 支路
0 1 0 0 1 PUN:A 支路
0 1 1 0 1 PUN:A 支路
1 0 0 0 1 PUN:B-C 串联支路
1 0 1 1 0 PDN:A-C 路径
1 1 0 1 0 PDN:A-B 路径
1 1 1 1 0 PDN:A-B 和 A-C 路径

每一行都只有一个网络提供到电源轨的完整路径。最深 NMOS 栈为 2,最深 PMOS 栈也为 2。补偿串联电阻时可能需要增宽串联器件,从而提高相应输入电容和扩散电容。

26. 自测清单

27. 下一步:阶段复习一

第 1~5 章已经形成从器件到逻辑门的完整基础链:连续电压被解释为逻辑值,MOSFET 作为受控开关,反相器提供静态电平恢复,负载电容决定动态延迟和能量,多晶体管互补网络实现多输入逻辑。

下一步应先完成“阶段复习一”,把晶体管状态、VTC、噪声容限、RC 延迟、功耗和静态 CMOS 网络放进同一组综合题,再进入第 6 章的数制与编码。